BTG Zeta電位分析儀SZP-10應用詳解
一、應用概述
BTG Zeta電位分析儀SZP-10專為快速、便捷地測定顆粒的電位而設計。在分散體系中，同性帶電離子間的靜電排斥力是維持體系穩定、防止凝聚的關鍵因素。因此，準確表征帶電粒子界面特性至關重要。SZP-10通過測量顆粒離子化后的總電荷和電荷密度，為科研與工業生產提供了關鍵參數。其測量原理基于動電信號的建立，能夠**反映顆粒界面的電荷狀態。
二、測量原理與方法
SZP-10采用多種測量原理，包括電泳法、電聲法及流動電位法，這些方法均基于剪切力作用于顆粒界面雙電層上的離子云。這些被測變量與顆粒界面電位（PIP），即Zeta電位，存在正比關系。SZP-10通過機械應力作用于流動電位和電聲法儀器，剝離外部松散附著的離子，從而直接測量界面電位。
三、電位滴定的目的與意義BTG Zeta電位分析儀SZP-10應用詳解
電位滴定旨在通過Smoluchowski、Henry等公式計算Zeta電位，但需特別注意粒徑范圍，尤其是100nm以下顆粒的Zeta電位計算方法尚存爭議。此外，單一Zeta電位值難以**描述樣品體系，因界面電位受離子環境影響顯著。PH值的微小變化即可影響顏料懸浮體的穩定性，因此深入研究Zeta電位滴定曲線對于理解體系穩定性至關重要。通過電位滴定，可識別懸浮液的穩定與不穩定區域，表征凝聚劑或催化劑的用量。
四、流動電流電位的測量
SZP-10通過驅動活塞在圓筒中往復運動，產生液體流動，剪切力作用于固定顆粒界面，導致離子云轉移。在樣品底部平靜區域，離子位移幾乎為零，從而可獲取底部與較高部位的振蕩信號，進而測量流動電流電位。
五、多功能性與廣泛適用性BTG Zeta電位分析儀SZP-10應用詳解
流動電位測試法適用于廣泛粒徑范圍（0.3nm至300μm），導電性范圍從零至50mS/cm，樣品濃度可達10vol%或更高，粘度上限為300mPas。該方法無需復雜樣品參數，且Zeta電位可通過流動電位乘以常數因子進行校正。
六、技術規格
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