美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計產品簡介美國International Light總代理在哪：
美國ILT2400+XSD340B輻照計365nm波長高能量曝光測量
ILT2400輻照計以手持價格提供研究級質量，采用可分離探頭設計，具有8個量級的動態測量范圍，測量速度可達100μs，內置可充電電池持續長達8小時，4.3寸觸摸屏顯示，可橫向和縱向查看讀數或圖形曲線。XSD340B探頭響應波段326-401 nm，校準于365nm波長，可測量3e-6 W/cm2至30W/cm2光源輻照強度。ILT測光表和探測器均帶NIST可溯源ISO17025認證校準報告。產品：微量氧分析儀,藥品殘氧儀,露點儀,熱導氣體分析儀,GE流量計,OX-1氧傳感器,頂空分析儀,紅外氣體分析儀,高溫濕度儀,西門子U23分析儀,ppb微量水分析儀,OXY.IQ氧分析儀,煙氣濕度儀,燃氣熱值儀,Kaye溫度驗證儀,L&W白度,儀激光氧分析儀,壓縮空氣露點儀,干燥機露點儀,激光氣體分析儀,便攜式露點儀,便攜式微量氧分析儀，Fei （維修中心，代表處，總代理，分公司，子公司，售后中心，銷售中心，上海辦，辦事處在哪里）
國際光學International Light ILT2400和XSD340B光刻膠測量系統用于326-401nm波段紫外線輻照度監測，校準于365nm光阻劑作用光譜，**地知道光致抗蝕劑曝光的程度，可測量高達30W/cm2 高能量強度，用于PCB印刷電路板光及半導體業。
美國International Light ILT2400+XSD340B 輻照計/照度計探頭參數：
ILT XSD系列光刻膠輻照度探頭
ILT2400+XSD140A：量程4e-8 to 0.7 W/cm2，響應波段320-475 nm，校準于405nm波長
ILT2400+XSD340A：量程8e-7 to 10 W/cm2，響應波段320-475 nm，校準于405nm波長
ILT2400+XSD140B：量程7e-8 to 1 W/cm2，光譜范圍326-401 nm，中心波長365nm
ILT2400+XSD340B：量程3e-6 to 30W/cm2 高強度，測量光譜326-401 nm，校準于365nm
美國International Light Photoresist光阻劑曝光輻照度測光表探頭選型
|
輻照計/探頭組合
|
響應波長頻譜
|
測量范圍
|
類型及應用
|
|
ILT5000, SED033/A/W
|
320-475 nm
|
2e-9 ~ 2 W/cm2
|
臺式，Photoresist光刻膠/光阻材料，
PCB板曝光系統，UVA光源，UV-Vis光源
|
|
ILT2400, SED033/A/W
|
320-475 nm
|
2e-7 ~ 2 W/cm2
|
手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，同上
|
|
ILT1000/A/W
|
320-475 nm
|
2e-7 ~ 2 W/cm2
|
手持式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統，UVA光源，UV-Vis光源
|
|
ILT1700, SED033/A/W
|
320-475 nm
|
7e-9 ~ 4 W/cm2
|
臺式，Photoresist光刻/光阻劑，同上
|
|
ILT2400, XSD140A
|
320-475 nm
|
4e-8 ~ 0.7 W/cm2
|
手持式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統，UVA光源，UV-Vis光源
|
|
ILT2400, XSD340A
|
320-475 nm
|
8e-7 ~ 10 W/cm2
|
同上，大功率高強度輻照探頭
|
|
ILT5000, SED033/B/W
|
326-401 nm
|
3e-10 ~ 0.2 W/cm2
|
臺式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統，UVA光源，UV-Vis光源
|
|
ILT2400, SED033/B/W
|
326-401 nm
|
2e-8 ~ 0.2 W/cm2
|
手持式，同上
|
|
ILT1700, SED033/B/W
|
326-401 nm
|
5e-9 ~ 0.5 W/cm2
|
臺式，同上
|
|
ILT1000/B/W
|
326-401 nm
|
2e-7 ~ 2 W/cm2
|
手持式，同上
|
|
ILT2400, XSD140B
|
326-401 nm
|
7e-8 ~ 1 W/cm2
|
手持式，Photoresist光刻/光阻劑，
PCB板曝光系統，UVA光源，UV-Vis光源
|
|
ILT2400, XSD340B
|
326-401 nm
|
2e-6 ~ 30 W/cm2
|
手持式，Photoresist光刻膠/光阻劑，高強度測量
|
|
ILT2400, SSD001
|
260-400 nm
|
6e-6 ~ 0.9 W/cm2
|
手持式，超薄傳感器，
PCB板曝光系統，UVA光源，UV-Vis光源
|
另有UV固化測量系統ILT800傳送帶式紫外線固化設備曝光量測量，范圍5e-3 ~ 40 W/cm2；LT2400+XSD340AT7 320-475 nm，校準于405nm中心波長，可測輻照強度范圍高達60 W/cm2。ILT紫外**測光系統ILT2400+SED254/QT，手持式，低可見度環境，高功率紫外線強度應用；ILT2400+SED185/NS185校準于185nm，臭氧/**、光解廢氣、水處理行業。
