產品資料

美國CID CI-710葉片光譜探測儀

點擊看大圖

如果您對該產品感興趣的話,可以

產品名稱: 美國CID CI-710葉片光譜探測儀

產品型號: 美國CID代表處在哪

產品展商: 其它品牌

產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。美國CID代表處在哪

美國CID CI-710葉片光譜探測儀 的詳細介紹

埃登威自動化-專業進口儀器供應商！我們提供豐富的儀器儀表種類、有競爭力的產品價格及良好的售后服務。美國CID代表處在哪

美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。

美國CID CI-710葉片光譜探測儀產品簡介：
?CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
?通過光譜可以定性、定量的研究葉片內各組分葉綠素a或b、蛋白質、糖、礦物質等含量及比例變化美國CID代表處在哪
?直觀的光譜圖像和現場數據存儲,為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段

美國CID CI-710葉片光譜探測儀產品特點：
?非常便攜，適合于室內或野外使用
?非破壞性精密地測量葉片在400~950nm波長范圍內的反射率、透射率和吸收率
?掃描速度快，靈敏度高
?USB接口連接UMPC數據處理終端
?樣品類型，葉片或扁平的物體美國CID代表處在哪

美國CID CI-710葉片光譜探測儀標準配置：
?光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數據終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱

我們會努力按照原廠技術參數翻譯編輯，如技術參數中英文有差異，以英文參數為準。

美國CID CI-710葉片光譜探測儀技術參數：美國CID代表處在哪

測量方式：	非破壞性測量葉片
測量光譜：	葉片透射、吸收和反射光譜
樣品類型：	葉片或扁平的物體
檢測器：	CCD線性陣列探測器
掃描波長范圍：	400～950 nm
采樣速度：	3.8ms-10s
光偏離：	＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
分辨率：	0.3～10.0nm FWHM
采樣直徑：	7.6 mm
線性修正：	>99.8%美國CID代表處在哪
配有CI-700LP葉夾
尺寸：	89.1 x 63.3 x 34.4 cm
重量：	290g